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测量显微镜MM-400/800通用型
使用通用型专用的自动对焦装置,能够实现高精度的高度测量。数值孔径(NA)高且抑制多杂光的CFI60光学系统与多种照明相结合,能够观察各种样本,还能够进行全电动的照明控制。除明视场、暗视场、简易偏光、微分干涉观察外,还可进行落射荧光观察。
最大可测量样本尺寸:300x200mm(MM-800+MHS 12x8)
150x100mm(MM-400+MHS 6x4)
观察倍率:50x-1000x(根据目镜与物镜的组合)
规格
*1使用U—AF装置时,可使用的物镜请参照“测量显微镜MM-400/800系列”产品目录P6上表格。
*2在MM-800上安装MHS8x6、MHS6x4、MHS4x4、MHS2x2、O3L载物台时,必须使用载物台适配器。
*3TE2-PS 100W电源+MM-LH50PC同时使用
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